介質損耗測試儀技術指標
ZL2690B抗干擾介質損耗測試儀是一種先進的測量介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設備的介質損耗(tgδ)和電容容量(Cx)測量。儀器具有操作簡單、無需數據換算、中文菜單顯示、并自帶打印功能、抗干擾能力強、測試速度在國內同類產品中zui快的優點。
ZL2690B抗干擾介質損耗測試儀工作原理:
儀器測量線路包括一路標準回路和一路測試回路:
1、標準回路由內置高壓穩定度標準電容器與標準電阻網絡組成,由計算機實時采集標準回路電流與測試回路的電流幅值及其相位差,并由之算出被測試品電容容值(CX)和其介質損耗(tgδ)。
2、數據采集電路全部采用高壓穩定器件,采集板和采集計算機被鐵盒*浮空屏蔽,儀器外殼地屏蔽;另外使用了光導數據、浮空地、大面積地、單點地、數字濾波等抗干擾技術,加之計算機對數百個電網周期的數據進行處理,使測量結果穩定、、可靠。
ZL2690B抗干擾介質損耗測試儀技術指標:
1、環境溫度:0 ~40℃
2、相對濕度:30% ~70%
3、供電電源:電壓:220V±10%、頻率:50±1Hz
4、外形尺寸:500mm×300mm×400mm
5、重量: 約18Kg
6、輸出功率:0.6KVA
7、顯示分辯率:3位、4位(內部全是6位)
8、測量范圍及輸出電壓選擇:
介質損耗(tgδ):±0.00~±999%
試品電容容量(Cx)和加載電壓:
2.5KV檔:≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF)
5KV檔:≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
10KV檔:≤20nF(20000pF)
9、基本測量誤差:
介質損耗(tgδ):1%±7個字(加載電流20uA~500mA)
介質損耗(tgδ):2%±9個字(加載電流5uA~20uA)
電容容量(Cx):1.5%±1.5pF
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